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法國phasics 波前分析儀 SID4技術參數

更新時間:2023-05-09   點擊次數:919次

 法國Phasics 公司的產品基于其波前測量技術,即4 波橫向剪切干涉技術。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上,這種技術將高分辨率和大動態范圍較好結合在了一起。任何應用下,其都能實現全面、簡便、快速的測量。具有如下技術優勢:高分辨率的相位圖,高分辨率可達400x300。具有直接測量高發散光束的能力消色差,匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準。應用方向:激光束質量分析自適應光學光學系統測量生物成像熱成像,等離子體表面物理

 法國Phasics 公司的產品基于其波前測量技術,即4 波橫向剪切干涉技術。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上,這種技術將高分辨率和大動態范圍較好結合在了一起。任何應用下,其都能實現全面、簡便、快速的測量。具有如下技術優勢:高分辨率的相位圖,高分辨率可達400x300。具有直接測量高發散光束的能力消色差,匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準。應用方向:激光束質量分析自適應光學光學系統測量生物成像熱成像,等離子體表面物理


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